诸位大哥 硬盘修复工具pc3000 v14完美破解版 怎么用？谢谢
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- 提问者网友：难遇难求
- 2021-02-06 09:35
诸位大哥 硬盘修复工具pc3000 v14完美破解版 怎么用？谢谢
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- 五星知识达人网友：duile
- 2021-02-06 10:12
PC3000软件说明
综合测试期间按顺序执行下列测试:
Controller test 控制器测试
IRQ test 硬件中断请求IRQ测试
Sector buffer test 扇区缓存测试
Recalibration test 磁头重新较准测试
Format check 格式化检查
Random reading 随机读取
Surface scanning 表面扫描
测试输出信息显示在屏幕的STATE状态栏和状态寄存器，错误寄存器LED指示灯上.状态栏包括:
Ready/Busy - 用硬盘驱动器状态寄存器中的BSY(忙)位指示硬盘驱动器状态.
DONE % -当前测试进度百分比 % (当执行需时较长的测试时会显示)
CYL -当前(活动的)柱面号.
HEAD -当前(活动的)磁头号.
ERRS -在各个测试中已检测到的硬盘驱动器错误数量.
"LBA mode" (LBA扇区定址模式) 在LBA扇区定址模式下会显示LBA扇区号而非柱面，磁头参数.
各个测试项目从主菜单"TESTING MODE SELECTION 测试模式选择"中选出, 屏幕上会显示以下消息:
ATTENTION! 注意!
Testing will destroy your data 测试会破坏你的数据
start cylinder: X 开始柱面: X
end cylinder: XXXX 结束柱面：XXXX
do write test: Yes 进行写入测试：是
press [Enter] or [Cancel] 按[Enter]或[Cancel]键
测试的默认开始和结束柱面别是0柱面到硬盘驱动器最大柱面.
"LBA MODE " 在LBA扇区定址模式下, 你必须输入测试开始和结束的LBA扇区号, 默认开始和结束的LBA扇区号分别是0号扇区各硬盘驱动器最大LBA扇区号.
注意! 保存在硬盘驱动器上的用户数据会被最后的 "SURFACE SCANNING 表面扫描"测试(中的写入测试)所破坏. 要在"SURFACE SCANNING 表面扫描"测试中取消写入测试, 先高亮"do write test 进行写入测试"这一行, 然后按"N"键. 要在"SURFACE SCANNING 表面扫描"测试中打开写入测试, 先高亮"do write test 进行写入测试"这一行, 然后按"Y"键.
随着进行"COMPLEX TEST综合测试"时, 各项测试过程的执行, 各项测试结果的评定--PASS(通过)或FAIL(失败)--会显示在屏幕上每项测试的名称的旁边. 当前正在执行的测试项目的名称旁边会标上"running (正在运行). 综合测试可以被按[Enter]键, [Cancel]键或[Exit]键中断, 那样屏幕上会显示一个" OPERATOR INTERRUPT 操作者中断"菜单. 从这个菜单你可以:
--从停下的位置继续进行测试
--跳过当前的测试项目;
--跳过所有的测试项目, 结束测试;
当测试结束时, 会听到一声提示信号同时屏幕上会显示如下消息:
Test complete , press [Enter] 测试完成, 按[Enter]键
在测试完成的同时, 会有一个XXXXXXX.DAT文本文件被创建在DAT子目录下面, 这里XXXXXXX是从硬盘驱动器读取的编号. 这个文件包含测试结果清单, 这些信息也可以在测试完成后按[Enter]键显示在屏幕上. 测试结果清单中的信息包含被测硬盘驱动器的类型和参数, 测试的日期和时间. 结果清单也包含各项测试结果的评定(PASS 通过,或FAIL 失败), 以及在每项测试中检测到的错误数目(ERRS). 对于每个检测到的错误后面会跟上在检测到这个错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 测试结果的整体评价会在测试结果清单的末尾给出: 测试被中断, PASS(通过), FAIL(失败). 假如在整个综合测试过程中检测到至少一个错误, 就会意判定为FAIL失败. 这是因为如下事实: IDE硬盘驱动器都有用于缺陷重设的容量(一般现代IDE硬盘驱动器会在每个盘片上保留一些扇区, 用于缺陷重设 --译者注), 因此功能运作完好的硬盘驱动器不会包含缺陷. 你可以用[Up]键 [Down]键来查看测试结果清单列表.
如果在"Surface scaning表面扫描"测试过程中检测到了错误, 那么在查看测试结果清单之后屏幕上会显示如下菜单:
SELECT ACTION 选择行动
Do not relocate defects 不重设缺陷
Relocate detected defects 重设检测到的缺陷
如果你选择了"Relocate detected defects 重设检测到的缺陷"--这会指定对所有缺陷扇区进行缺陷重设. 如果你按下[ESC]键, 或者选择了其它菜单项, 那么不会重设缺陷.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 不仅可以在"Surface scanning 表面扫描"测试中利用缺陷重设来隐藏缺陷, 还可在 "Format check 格式化检查"和" Random reading 随机读取"测试中隐藏缺陷.
2.5.5.1 硬盘驱动器综合测试的组成
Controller test 控制器测试--当这项测试启动时, 会执行标准ATA命令90H"HDD self-diagnostics硬盘驱动器自诊断". 如果被测硬盘驱动器不能通过这项控制器测试, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时结果代码会写到测试结果清单中(完整的硬盘驱动器自诊断结果代码请参看 2.5.4 "Controller test"控制器测试模式)
IRQ test 硬中断请求测试 --这项测试用于检查通过硬盘驱动器IDE接口40针连接器第31针发出的中断请求信号.
IRQ12 第12号硬件中断必须在电脑上没有被其它设备使用才可进行这个测试, 否则测试会导致错误.
Sector buffer test 扇区缓存测试--这项测试用于检查硬盘驱动器的内部数据总线, 总线上的总线驱动器部件, ATA接口控制器的内部总线, 以及扇区缓存区域 buffer RAM MC. 测试算法的细节在2.5.4 "Controller test 控制器测试模式"中描述. 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时对扇区写入和读出的代码也会含入结果清单中.
例如:
Code written:0000000000000000 写入代码为 :000000000000000
Code read: 0000000011111111 读出代码为 :000000001111111
注意! 老型号的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盘驱动器与ATA标准有些不兼容. 在这种硬盘驱动器进行扇区缓存测试会报告错误.
Recalibration test 磁头重新较准测试--当执行这项测试时, 会执行标准ATA命令10H(重校准磁头)--(就是磁头定位零磁道 --译者注). 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时状态寄存器的值和错误寄存器的值会被写到测试结果清单中.
Format check 格式化检查--这项测试用低级格式化来检查IDE硬盘驱动器. 当测试运行时, 测试的进度百分比DONE %, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上. 状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断格式化检查中发现的错误的原因. 测试结束会创建一张检测到的错误列表. 表中每一行的信息包括与检测到的错误有关的柱面及磁头号,检测到错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在格式化检查之后进行的缺陷重设过程.
Random reading 随机读取--这项测试用于检查磁头定位系统. 测试运行时, 柱面号会随机的从0柱面到最大柱面这个范围之间随机的选取. 磁头号则循环选取. 磁头定位过程进行的次数等于硬盘驱动器的柱面总数. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数会显示在状态栏上. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表, 类似于格式化检查过程建立的列表.这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 扇区将从LBA 0扇区到LBA最大扇区号之间的范围随机的选取. 磁头定位过程进行的次数等于1000. 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在随机读取检查之后进行的缺陷重设过程.
Surface scanning 表面扫描-- 这项测试用于逐个扇区的扫描硬盘驱动器扇区数据格式中的扇区数据字段(一般IDE硬盘驱动器的每个扇区上的数据可划分为扇区地址ID字段和扇区数据字段两个部分, 其中扇区数据字段一般为512字节用于存放用户数据, 再加4个字节的用户数据CRC校验码用于保证数据完整性 --译者注). 在测试时, 测试代码6DB6H会写到磁道上的每一个扇区上, 随后再读出来, 比较写入与读出的信息. 如果在综合测试的设置选项中关闭了写入, 则只进行读取而不进行数据比较. 在比较写入与读出的代码时, 如果发现不匹配, 那么就会在测试结果清单中写入错误码FFH. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上.状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断表面扫描检查中发现的错误的原因. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表,表中每一行的信息包括与检测到的错误相关的柱面及磁头号,检测到这个错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过150行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面. 缺陷扇区的相关数据可用于在表面扫描检查之后进行的缺陷重设过程.
综合测试期间按顺序执行下列测试:
Controller test 控制器测试
IRQ test 硬件中断请求IRQ测试
Sector buffer test 扇区缓存测试
Recalibration test 磁头重新较准测试
Format check 格式化检查
Random reading 随机读取
Surface scanning 表面扫描
测试输出信息显示在屏幕的STATE状态栏和状态寄存器，错误寄存器LED指示灯上.状态栏包括:
Ready/Busy - 用硬盘驱动器状态寄存器中的BSY(忙)位指示硬盘驱动器状态.
DONE % -当前测试进度百分比 % (当执行需时较长的测试时会显示)
CYL -当前(活动的)柱面号.
HEAD -当前(活动的)磁头号.
ERRS -在各个测试中已检测到的硬盘驱动器错误数量.
"LBA mode" (LBA扇区定址模式) 在LBA扇区定址模式下会显示LBA扇区号而非柱面，磁头参数.
各个测试项目从主菜单"TESTING MODE SELECTION 测试模式选择"中选出, 屏幕上会显示以下消息:
ATTENTION! 注意!
Testing will destroy your data 测试会破坏你的数据
start cylinder: X 开始柱面: X
end cylinder: XXXX 结束柱面：XXXX
do write test: Yes 进行写入测试：是
press [Enter] or [Cancel] 按[Enter]或[Cancel]键
测试的默认开始和结束柱面别是0柱面到硬盘驱动器最大柱面.
"LBA MODE " 在LBA扇区定址模式下, 你必须输入测试开始和结束的LBA扇区号, 默认开始和结束的LBA扇区号分别是0号扇区各硬盘驱动器最大LBA扇区号.
注意! 保存在硬盘驱动器上的用户数据会被最后的 "SURFACE SCANNING 表面扫描"测试(中的写入测试)所破坏. 要在"SURFACE SCANNING 表面扫描"测试中取消写入测试, 先高亮"do write test 进行写入测试"这一行, 然后按"N"键. 要在"SURFACE SCANNING 表面扫描"测试中打开写入测试, 先高亮"do write test 进行写入测试"这一行, 然后按"Y"键.
随着进行"COMPLEX TEST综合测试"时, 各项测试过程的执行, 各项测试结果的评定--PASS(通过)或FAIL(失败)--会显示在屏幕上每项测试的名称的旁边. 当前正在执行的测试项目的名称旁边会标上"running (正在运行). 综合测试可以被按[Enter]键, [Cancel]键或[Exit]键中断, 那样屏幕上会显示一个" OPERATOR INTERRUPT 操作者中断"菜单. 从这个菜单你可以:
--从停下的位置继续进行测试
--跳过当前的测试项目;
--跳过所有的测试项目, 结束测试;
当测试结束时, 会听到一声提示信号同时屏幕上会显示如下消息:
Test complete , press [Enter] 测试完成, 按[Enter]键
在测试完成的同时, 会有一个XXXXXXX.DAT文本文件被创建在DAT子目录下面, 这里XXXXXXX是从硬盘驱动器读取的编号. 这个文件包含测试结果清单, 这些信息也可以在测试完成后按[Enter]键显示在屏幕上. 测试结果清单中的信息包含被测硬盘驱动器的类型和参数, 测试的日期和时间. 结果清单也包含各项测试结果的评定(PASS 通过,或FAIL 失败), 以及在每项测试中检测到的错误数目(ERRS). 对于每个检测到的错误后面会跟上在检测到这个错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 测试结果的整体评价会在测试结果清单的末尾给出: 测试被中断, PASS(通过), FAIL(失败). 假如在整个综合测试过程中检测到至少一个错误, 就会意判定为FAIL失败. 这是因为如下事实: IDE硬盘驱动器都有用于缺陷重设的容量(一般现代IDE硬盘驱动器会在每个盘片上保留一些扇区, 用于缺陷重设 --译者注), 因此功能运作完好的硬盘驱动器不会包含缺陷. 你可以用[Up]键 [Down]键来查看测试结果清单列表.
如果在"Surface scaning表面扫描"测试过程中检测到了错误, 那么在查看测试结果清单之后屏幕上会显示如下菜单:
SELECT ACTION 选择行动
Do not relocate defects 不重设缺陷
Relocate detected defects 重设检测到的缺陷
如果你选择了"Relocate detected defects 重设检测到的缺陷"--这会指定对所有缺陷扇区进行缺陷重设. 如果你按下[ESC]键, 或者选择了其它菜单项, 那么不会重设缺陷.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 不仅可以在"Surface scanning 表面扫描"测试中利用缺陷重设来隐藏缺陷, 还可在 "Format check 格式化检查"和" Random reading 随机读取"测试中隐藏缺陷.
2.5.5.1 硬盘驱动器综合测试的组成
Controller test 控制器测试--当这项测试启动时, 会执行标准ATA命令90H"HDD self-diagnostics硬盘驱动器自诊断". 如果被测硬盘驱动器不能通过这项控制器测试, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时结果代码会写到测试结果清单中(完整的硬盘驱动器自诊断结果代码请参看 2.5.4 "Controller test"控制器测试模式)
IRQ test 硬中断请求测试 --这项测试用于检查通过硬盘驱动器IDE接口40针连接器第31针发出的中断请求信号.
IRQ12 第12号硬件中断必须在电脑上没有被其它设备使用才可进行这个测试, 否则测试会导致错误.
Sector buffer test 扇区缓存测试--这项测试用于检查硬盘驱动器的内部数据总线, 总线上的总线驱动器部件, ATA接口控制器的内部总线, 以及扇区缓存区域 buffer RAM MC. 测试算法的细节在2.5.4 "Controller test 控制器测试模式"中描述. 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时对扇区写入和读出的代码也会含入结果清单中.
例如:
Code written:0000000000000000 写入代码为 :000000000000000
Code read: 0000000011111111 读出代码为 :000000001111111
注意! 老型号的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盘驱动器与ATA标准有些不兼容. 在这种硬盘驱动器进行扇区缓存测试会报告错误.
Recalibration test 磁头重新较准测试--当执行这项测试时, 会执行标准ATA命令10H(重校准磁头)--(就是磁头定位零磁道 --译者注). 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时状态寄存器的值和错误寄存器的值会被写到测试结果清单中.
Format check 格式化检查--这项测试用低级格式化来检查IDE硬盘驱动器. 当测试运行时, 测试的进度百分比DONE %, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上. 状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断格式化检查中发现的错误的原因. 测试结束会创建一张检测到的错误列表. 表中每一行的信息包括与检测到的错误有关的柱面及磁头号,检测到错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在格式化检查之后进行的缺陷重设过程.
Random reading 随机读取--这项测试用于检查磁头定位系统. 测试运行时, 柱面号会随机的从0柱面到最大柱面这个范围之间随机的选取. 磁头号则循环选取. 磁头定位过程进行的次数等于硬盘驱动器的柱面总数. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数会显示在状态栏上. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表, 类似于格式化检查过程建立的列表.这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 扇区将从LBA 0扇区到LBA最大扇区号之间的范围随机的选取. 磁头定位过程进行的次数等于1000. 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在随机读取检查之后进行的缺陷重设过程.
Surface scanning 表面扫描-- 这项测试用于逐个扇区的扫描硬盘驱动器扇区数据格式中的扇区数据字段(一般IDE硬盘驱动器的每个扇区上的数据可划分为扇区地址ID字段和扇区数据字段两个部分, 其中扇区数据字段一般为512字节用于存放用户数据, 再加4个字节的用户数据CRC校验码用于保证数据完整性 --译者注). 在测试时, 测试代码6DB6H会写到磁道上的每一个扇区上, 随后再读出来, 比较写入与读出的信息. 如果在综合测试的设置选项中关闭了写入, 则只进行读取而不进行数据比较. 在比较写入与读出的代码时, 如果发现不匹配, 那么就会在测试结果清单中写入错误码FFH. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上.状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断表面扫描检查中发现的错误的原因. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表,表中每一行的信息包括与检测到的错误相关的柱面及磁头号,检测到这个错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过150行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面. 缺陷扇区的相关数据可用于在表面扫描检查之后进行的缺陷重设过程.
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