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请问大家如何通过高倍透射电镜(HR-TEM)中的FFT分析晶面啊?

答案:2  悬赏:10  手机版
解决时间 2021-03-23 22:59
  • 提问者网友:玫瑰园
  • 2021-03-23 14:30
请问大家如何通过高倍透射电镜(HR-TEM)中的FFT分析晶面啊?
最佳答案
  • 五星知识达人网友:洒脱疯子
  • 2021-03-23 15:28
如果在TEM图像中看到晶格条纹,可对标定后的图像进行FFT,得到一对或多对点,(如果点足够多,也可能是看到环或者弧线段,但都可以看成是点的集合),量取点到中心的距离(单位是nm^-1),求倒数,即为所对应晶面的晶面间距(单位是nm)。原理上,这样的测算结果跟直接在TEM图像上测量晶格条纹的间距得到的结果是一样的,但实际上通过FFT得到的是大量同类晶面的统计结果,精度远高于直接测量,有很多时候直接测量甚至是无法完成的。FFT测算出的晶面间距,其数值可于XRD卡片中的某个d值对应。

以上只是大致方法,不知道你的知识基础和样品具体情况,欢迎追问。
全部回答
  • 1楼网友:鱼芗
  • 2021-03-23 15:40
HRTEM像,一次FT后得到衍射图,再次FT后,即FFT后是过滤像,即通过在FT图中选取衍射束或透射束,使FFT呈现暗场、明场及特定晶面。过滤像对于呈现位错特别有用。二者如何联系,这要看你的目的是什么。
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