在芯片测试中scan和bist有什么区别
答案:1 悬赏:0 手机版
解决时间 2021-11-10 23:16
- 提问者网友：山高云阔
- 2021-11-10 10:58
在芯片测试中scan和bist有什么区别
最佳答案
- 五星知识达人网友：妄饮晩冬酒
- 2021-11-10 12:12
scan是把寄存器添加一条有别于function的通路，然后把若干寄存器首尾串联起来，增强时序电路的可控性和可观测性。
BIST是一个专门用于测试的电路模块，能够直接产生测试激励和检测测试响应。
BIST是一个专门用于测试的电路模块，能够直接产生测试激励和检测测试响应。
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