半导体 器件特性与器件结构参数的关系 特征频率与直流工作点的关系

半导体 器件特性与器件结构参数的关系 特征频率与直流工作点的关系

恩~~说实话，你这题问的有点含糊。半导体大体分为：本征半导体和杂质半导体。杂质半导体又分为N型和P型的。

常见的半导体有：（1）半导体二极管（2）双极型晶体管（3）场效应晶体管（又分为①绝缘栅场效应管②结型场效应管）如果你想了解它们的特性和结构参数，我已经把它们的名字告诉你了，你自己去找一下吧，因为太多所以我就不在这里写了，见谅。

至于特征频率，它是交流参数，只能说它和静态工作点（就是你说的直流工作点）有间接关系，它们之间没有直接关系。以下是对静态工作点的解释（可以间接影响特征频率）：

所谓静态工作点就是输入信号为零时，电路处于直流工作状态，这些直流电流、电压的数值在三极管特性曲线上表示为一个确定的点，设置静态工作点的目的就是要保证在被被放大的交流信号加入电路时，不论是正半周还是负半周都能满足发射结正向偏置，集电结反向偏置的三极管放大状态。可以通过改变电路参数来改变静态工作点，这就可以设置静态工作点。若静态工作点设置的不合适，在对交流信号放大时就可能会出现饱和失真（静态工作点偏高）或截止失真（静态工作点偏低）。

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