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【霍尔效应测试仪】怎样利用霍尔效应测量交变电场?测试方程是什么?除了测试仪、霍尔...

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解决时间 2021-02-15 06:12
  • 提问者网友:暮烟疏雨之际
  • 2021-02-14 23:21
【霍尔效应测试仪】怎样利用霍尔效应测量交变电场?测试方程是什么?除了测试仪、霍尔...
最佳答案
  • 五星知识达人网友:独钓一江月
  • 2021-02-15 00:50
【答案】 霍尔效应装置如图2.3.1-1和图2.3.1-2所示.将一个半导体薄片放在垂直于它的磁场中(B的方向沿z轴方向),当沿y方向的电极A、A’上施加电流I时,薄片内定向移动的载流子(设平均速率为u)受到洛伦兹力FB的作用,
  FB= q u B (1)
  无论载流子是负电荷还是正电荷,FB的方向均沿着x方向,在磁力的作用下,载流子发生偏移,产生电荷积累,从而在薄片B、B’两侧产生一个电位差VBB’,形成一个电场E.电场使载流子又受到一个与FB方向相反的电场力FE,
  FE=q E = q VBB’ / b (2)
  其中b为薄片宽度,FE随着电荷累积而增大,当达到稳定状态时FE=FB,即
  q uB = q VBB’ / b (3)
  这时在B、B’两侧建立的电场称为霍尔电场,相应的电压称为霍尔电压,电极B、B’称为霍尔电极.
  另一方面,射载流子浓度为n,薄片厚度为d,则电流强度I与u的关系为:
  (4)
  由(3)和(4)可得到
  (5)
  另,则
  (6)
  R称为霍尔系数,它体现了材料的霍尔效应大小.根据霍尔效应制作的元件称为霍尔元件.
  在应用中,(6)常以如下形式出现:
  (7)
  式中称为霍尔元件灵敏度,I称为控制电流.
  由式(7)可见,若I、KH已知,只要测出霍尔电压VBB’,即可算出磁场B的大小;并且若知载流子类型(n型半导体多数载流子为电子,P型半导体多数载流子为空穴),则由VBB’的正负可测出磁场方向,反之,若已知磁场方向,则可判断载流子类型.
  由于霍尔效应建立所需时间很短(10-12~10-14s),因此霍尔元件使用交流电或者直流电都可.指示交流电时,得到的霍尔电压也是交变的,(7)中的I和VBB’应理解为有效值.
  n 霍尔效应实验中的付效应
  在实际应用中,伴随霍尔效应经常存在其他效应.例如实际中载流子迁移速率u服从统计分布规律,速度小的载流子受到的洛伦兹力小于霍尔电场作用力,向霍尔电场作用力方向偏转,速度大的载流子受到磁场作用力大于霍尔电场作用力,向洛伦兹力方向偏转.这样使得一侧告诉载流子较多,相当于温度较高,而另一侧低速载流子较多,相当于温度较低.这种横向温差就是温差电动势VE,这种现象称为爱延豪森效应.这种效应建立需要一定时间,如果采用直流电测量时会因此而给霍尔电压测量带来误差,如果采用交流电,则由于交流变化快使得爱延豪森效应来不及建立,可以减小测量误差.
  此外,在使用霍尔元件时还存在不等位电动势引起的误差,这是因为霍尔电极B、B’不可能绝对对称焊在霍尔片两侧产生的.由于目前生产工艺水平较高,不等位电动势很小,故一般可以忽略,也可以用一个电位器加以平衡(图2.3.1-1中电位器R1).
  我们可以通过改变IS和磁场B的方向消除大多数付效应.具体说在规定电流和磁场正反方向后,分别测量下列四组不同方向的IS和B组合的VBB’,即
  +B,+I
  VBB’=V1
  -B,+I
  VBB’=-V2
  -B,-I
  VBB’=V3
  +B,-I
  VBB’=-V4
  然后利用得到霍尔电压平均值,这样虽然不能消除所有的付效应,但其引入的误差不大,可以忽略不计.
  电导率测量方法如下图所示.设B’C间距离为L,样品横截面积为S=bd,流经样品电流为IS,在零磁场下,测得B’C间电压为VB’C,则
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  • 1楼网友:猎心人
  • 2021-02-15 02:23
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